LET-5000系列 半導體靜態(tài)參數測試系統-云帆興燁

型號：LET-5000系列
?LET-5000靜態(tài)參數測試系統是一款測量與分析功率靜態(tài)參數的專(zhuān)用儀器，為所有類(lèi)型的功率器件提供靜態(tài)參數測量解決方案。

產(chǎn)品描述

LET-5000半導體測試系統是一款測量與分析功率半導體器件靜態(tài)參數的專(zhuān)用儀器，為所有類(lèi)型的功率半導體器件提供靜態(tài)參數測量解決方案。
LET-5000半導體測試系統能在2200V（可擴展為8000V）和1000A （可擴展為6000A）的條件下實(shí)現精確測量、分析功率半導體器件的靜態(tài)參數。
LET-5000具有快脈沖能力，并具有優(yōu)異的寬電壓和電流測量能力。
這些功能能夠對最新的器件（例如 IGBT）和新型材料（例如 GaN 和 SiC）進(jìn)行測量，可以測試器件包括：MOSFET、IGBT、二極管、三極管、JET、HEMT、光耦等。  
LET-5000由多個(gè)獨立的高精度源組成，每個(gè)功率源模塊上配備兩個(gè)獨立的模數(AD)轉換器支持2μs采樣率，每個(gè)模塊上的驅動(dòng)能夠獨立精確控制，對有可能影響器件特性的關(guān)鍵計時(shí)進(jìn)行精確監測。具有高電壓和大電流特性、μΩ級導通電阻精確測量、nA 級漏電流測量能力等特點(diǎn)，支持高壓模式下功率器件結電容測試，如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。


 

被測對象及主要測試參數

 

被測對象 

主要測試參數 

分立器件

Id-Vg，Id-Vd，Ic-Vc,二極管

雙極

Ic-Vc、二極管、Gummel 圖、擊穿、hfe、電容

Coms

Id-Vg、Id-Vd、Vth、擊穿、電容、QSCV等

內存

Vth、電容、耐久測試等。

MOSFET

Id-Vds,Rds-Id,Id-Vgs,電容

IGBT

Ic-Vce，Ic-Vge,Vce(sat),Vth Vge(off),擊穿

太陽(yáng)能電池

I-V、Cp-V、奈奎斯特圖、DLCP 等。

納米器件

電阻、Id-Vg、Id-Vd、Ic-Vc等。

GaN

FET 電流衰減、Id-Vds 電流衰減、二極管電流


LET-5000系統參數：


集電極-發(fā)射極
測量電壓：
標配：2200V
選件1：3500V
選件2：8000V

測量電流：
標配：1000A
選件1：2000A
選件2：3000A
選件3：4000A
選件4：5000A
選件5：6000A

精度：0.10%
漏電流測試范圍：1nA~100mA

柵極-發(fā)射極
最大電壓：300V
最大電流：10A
精度：0.05%
電壓分辨率：30μV
電流分辨率：10pA
電容測試精度：0.50%
頻率范圍：10Hz-1MHz
電容值范圍：0.01pF-9.9999F

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image.png訂貨規格：
LET-5210 電壓范圍：0-2200V，電流范圍：0-1000A
LET-5220 電壓范圍：0-2200V，電流范圍：0-2000A
LET-5230 電壓范圍：0-2200V，電流范圍：0-3000A
LET-5240 電壓范圍：0-2200V，電流范圍：0-4000A
LET-5250 電壓范圍：0-2200V，電流范圍：0-5000A
LET-5260 電壓范圍：0-2200V，電流范圍：0-6000A

LET-5310 電壓范圍：0-3500V，電流范圍：0-1000A
LET-5320 電壓范圍：0-3500V，電流范圍：0-2000A
LET-5330 電壓范圍：0-3500V，電流范圍：0-3000A
LET-5340 電壓范圍：0-3500V，電流范圍：0-4000A
LET-5350 電壓范圍：0-3500V，電流范圍：0-5000A
LET-5360 電壓范圍：0-3500V，電流范圍：0-6000A

LET-5810 電壓范圍：0-8000V，電流范圍：0-1000A
LET-5820 電壓范圍：0-8000V，電流范圍：0-2000A
LET-5830 電壓范圍：0-8000V，電流范圍：0-3000A
LET-5840 電壓范圍：0-8000V，電流范圍：0-4000A
LET-5850 電壓范圍：0-8000V，電流范圍：0-5000A
LET-5860 電壓范圍：0-8000V，電流范圍：0-6000A